X射線熒光（XRF）分析技術(shù)以一定能量的光子、電子、質(zhì)子、α粒子或其他重離子的射線照射樣品，從樣品原子中激發(fā)出特征X射線，通過對特征X射線的探測實現(xiàn)對樣品的定性定量分析。XRF分析方法制樣簡單，測量快速，適合于固體樣品中主、次、痕量多元素同時測定，檢出限在μg/g量級內(nèi)，可直接用于原位和現(xiàn)場在線分析，在地質(zhì)、材料、環(huán)境、冶金、考古和太空探索等領(lǐng)域占有重要地位。

 性能特點

XRF分析方法簡單，測量快速，適合于固體樣品中主、次、痕量多元素同時測定，檢出限在μg/g量級內(nèi)，可直接用于原位和現(xiàn)場在線分析，在地質(zhì)、材料、環(huán)境、冶金、考古和太空探索等領(lǐng)域占有重要地位。

應(yīng)用領(lǐng)域

    ◆地質(zhì)勘探

    ◆環(huán)境調(diào)查

    ◆材料科學(xué)

    ◆生命科學(xué)

    ◆歷史考古

    ◆工業(yè)過程控制

    ◆固廢資源回收

原理：

利用原級X射線光子或其他微觀粒子激發(fā)待分析樣品中的原子，使之產(chǎn)生X熒光（次級X射線）通過測量這些X熒光的能量（或波長）和強度來分析樣品中元素成分的種類和含量。